发明名称 | 用于半导体装置的模拟器和模拟方法 | ||
摘要 | 本发明涉及用于半导体装置的模拟器和模拟方法。用于模拟包括其电路构成可以被修改的AFE单元的半导体装置的模拟器包括:电路构成配置单元,用于根据与AFE单元耦合的传感器来配置AFE单元的电路构成;输入图案选择单元,用于选择要向传感器输入的信号的波形图案;以及,模拟执行单元,用于使用所选择的波形图案作为输入条件来对于传感器和具有所配置的电路构成的AFE单元的组合执行模拟。 | ||
申请公布号 | CN103488807A | 申请公布日期 | 2014.01.01 |
申请号 | CN201310228401.8 | 申请日期 | 2013.06.08 |
申请人 | 瑞萨电子株式会社 | 发明人 | 古贺安博 |
分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人 | 李兰;孙志湧 |
主权项 | 一种用于模拟半导体装置的模拟器,所述半导体装置包括模拟前端电路,所述模拟前端电路的电路构成能够被修改,所述模拟器包括:输入图案存储单元,用于存储进入传感器的信号的多个波形图案;电路构成配置单元,用于根据耦合到所述模拟前端电路的传感器来配置所述模拟前端电路的电路构成;输入图案显示单元,用于显示在所述输入图案存储单元中存储的所述波形图案;输入图案选择单元,用于根据用户操作从所显示的波形图案中选择要输入到所述传感器的信号的波形图案;以及模拟执行单元,用于使用所选择的波形图案作为输入条件,来对于所述传感器和具有所配置的电路构成的所述模拟前端电路的组合进行模拟。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |