发明名称 采用鳍式场效应晶体管工艺的同质结二极管结构
摘要 通过利用鳍式场效应晶体管(FinFET)形成工艺中的各个工艺步骤,在包括FinFET的IC器件中形成二极管和双极结型晶体管(BJT)。二极管或BJT包括隔离鳍区域和鳍阵列区域,具有不同深度的n阱和位于鳍阵列区域的一部分中并围绕隔离鳍区域中的n阱的p阱。与FinFET的n阱和p阱一起注入二极管和BJT的n阱和p阱。本发明提供了采用鳍式场效应晶体管工艺的同质结二极管结构。
申请公布号 CN103489863A 申请公布日期 2014.01.01
申请号 CN201310046641.6 申请日期 2013.02.05
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 胡嘉欣;张胜杰;洪照俊;陈重辉
分类号 H01L27/06(2006.01)I;H01L21/822(2006.01)I 主分类号 H01L27/06(2006.01)I
代理机构 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人 章社杲;孙征
主权项 一种二极管,包括:半导体衬底,具有位于隔离鳍区域中的多个鳍和位于鳍阵列区域中的多个鳍阵列;位于所述隔离鳍区域中的n阱,该n阱具有n阱深度;位于所述隔离鳍区域中的p阱,该p阱位于所述n阱的下方;以及位于所述鳍阵列区域中的p阱,该p阱的p阱深度大于所述n阱深度,并且该p阱与位于所述隔离鳍区域中的p阱相连;其中,所述隔离鳍区域中的鳍间距大于约0.3微米,并且所述鳍阵列区域中的阵列内鳍间距小于约50纳米(nm)。
地址 中国台湾新竹