发明名称 一种提高GaAs衬底AlGaInP四元单面双电极发光二极管亮度的方法
摘要 本发明涉及一种提高GaAs衬底AlGaInP四元单面双电极发光二极管亮度的方法,本发明将氧化后的DBR层、电极结构化、高电流扩展和同面双电极等多种技术相融合,避免了LED断路或半断路现象,使之成为具有高反射、无焦耳热的高亮度同面双电极发光二级管。在本发明所述的高亮发光二级管芯片的外延生长、电极制作步骤完成后,对芯片半切,最后对芯片进行一次氧化,改变DBR层导电性,使之成为绝缘层,大大提高反射率,消除因产生焦耳热、散射等引起的损耗,实现100%的出光效率。
申请公布号 CN103489976A 申请公布日期 2014.01.01
申请号 CN201210194907.7 申请日期 2012.06.13
申请人 山东浪潮华光光电子股份有限公司 发明人 闫宝华;夏伟;徐现刚;李懿洲;汤福国
分类号 H01L33/10(2010.01)I;H01L33/38(2010.01)I;H01L33/62(2010.01)I 主分类号 H01L33/10(2010.01)I
代理机构 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人 吕利敏
主权项 一种提高GaAs衬底AlGaInP四元单面双电极发光二极管亮度的方法,其特征在于,其包括步骤如下:(1)采用MOCVD法依次在GaAs衬底上制备GaAs层、DBR层、N型AlGaIn层、量子阱有源区、P型AlGaIn层和GaP层,在GaP层上制有P电极,在N型AlGaIn层上制有台面,在所述台面上制有N电极,制成发光二极管;(2)将步骤(1)所述发光二极管沿DBR层的上表层进行半切,半切深度范围是:20‑40μm;将所述的发光二极管沿DBR层的上表层进行半切,实现了对所述发光二极管的水平环切,使所述DBR层的上表面与所述N型AlGaIn层形成缝隙,为后续的氧化做准备;(3)将步骤(2)中经半切后的发光二极管置于氧化炉内进行氧化,氧化时间为20‑30min,所述氧化炉内的温度为300‑500℃;所述氧化炉内的湿度大于或等于85%RH;(4)对经步骤(3)处理后的发光二极管用去离子水冲洗,随后用N2将发光二极管吹干;(5)对经步骤(4)处理后的发光二极管进行封装,制成AlGaInP四元单面双电极高亮发光二极管。
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