发明名称 一种基于广义折叠集的自动测试向量生成方法
摘要 一种基于广义折叠集的自动测试向量生成方法,首先通过随机测试将故障分成易测和难测故障,将难测故障合并,将可以用同一个测试向量测试的难测故障个数分组,选择可以合并故障数最多的两组故障,采用影响范围技术来判断每个信号线在回退过程中产生影响的原始输入,指导测试向量的生成过程,产生对应的两个测试向量,由该两个测试向量来确定对应的广义折叠集,用该广义折叠集的每一个测试向量进行故障模拟,检查该广义折叠集所能测的所有故障;对剩下的故障再按上述方法产生完整广义折叠集,一直到所有故障都能全部检测,最终得到若干个确定的广义折叠集。本发明的优点在于:可以根据广义折叠规律来压缩测试数据,即生成的数据更易于压缩。
申请公布号 CN102262209B 申请公布日期 2014.01.01
申请号 CN201110095648.8 申请日期 2011.04.15
申请人 詹文法 发明人 詹文法;马俊;韩建华;孙秀芳;方晓珍
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R31/3185(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 安徽汇朴律师事务所 34116 代理人 丁瑞瑞
主权项 一种基于广义折叠集的自动测试向量生成方法,其特征在于:包括下述步骤:a、根据电路结构,生成故障列表;b、进行伪随机测试,将故障分离成易测故障和难测故障;c、对难测故障进行合并,分三个原则来执行:①如果两个故障没有相同的结构输入核,这两个向量是可以合并的,基于这两个故障产生一个测试向量;②如果两个故障的结构输入核有交叉,但是它们的影响范围没有交叉,仍然基于这两个故障产生一个测试向量;③如果结构输入核和影响范围都有交叉,不能判断他们是否可以直接合并成一个测试向量,在这种情况下,通过已经量化的影响范围指标来判断两个故障影响范围的交叉程度,优先选取影响范围交叉小的故障进行;d、对难测故障按可以合并难测故障数进行分组;e、选择可以合并难测故障数最多的两组故障,产生两个对应的测试向量;f、由该两个测试向量确定广义折叠集;g、用该广义折叠集进行故障模拟,生成该广义折叠集可以测试的故障列表;h、对剩下的用该广义折叠集不能测的故障,重复步骤b‑g,一直到所有故障均能被广义折叠集测试。
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