发明名称 一种电容屏功能片智能测试机
摘要 本发明公开一种电容屏功能片智能测试机,其包括机壳、控制模块,机壳上安装有测试基台和测试组件;测试基台滑动连接安装于机壳上,控制模块控制测试基台在机壳上的滑动;测试基台上设连接有抽真空装置的真空吸气孔;控制模块控制抽真空装置的运行,以定位待测功能片;测试组件包括滑竿和测试押头,测试押头可沿滑竿上下滑动;测试押头的顶端设有探针以及红外测距模块;红外测距模块的输出端连接控制模块;控制模块控制测试押头的升降,探针随测试押头的升降在测试基台上方升降。本发明可对功能片进行有效定位,并能够自动控制探针的测试行程,以实现智能的对定位后的功能片进行测试,测试效率高,且测试押头和探针的损坏几率大大降低。
申请公布号 CN103487716A 申请公布日期 2014.01.01
申请号 CN201310469481.6 申请日期 2013.10.10
申请人 南京华睿川电子科技有限公司 发明人 刁成龙;窦胜国;曾毅
分类号 G01R31/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/02(2006.01)I
代理机构 南京天翼专利代理有限责任公司 32112 代理人 王玉梅
主权项  一种电容屏功能片智能测试机,其特征是,包括机壳,机壳内设有控制模块,机壳上安装有测试基台和测试组件;测试基台滑动连接安装于机壳上,控制模块控制测试基台在机壳上的滑动;测试基台上设有一个以上真空吸气孔;真空吸气孔连接有抽真空装置;控制模块控制抽真空装置的运行,以使得真空吸气孔吸紧上方功能片;测试组件包括滑竿和测试押头,测试押头可沿滑竿上下滑动;测试押头的顶端设有探针以及可将红外线照射于测试基台上的红外测距模块;红外测距模块的输出端连接控制模块;控制模块控制测试押头的升降,探针随测试押头的升降在测试基台上方升降。
地址 210061 江苏省南京市高新技术开发区新科二路28号