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Die Erfindung betrifft ein Messelement (4) aus einem Kristall der Symmetrieklasse 32, insbesondere aus piezoelektrischem Quarz, flach ausgestaltet in einer Ebene x–y zum Einbauen in einen Messkörper, zum Messen einer Kraft Fz, welche senkrecht auf die Ebene x–y wirkt, wobei eine Kraft Fz eine Ladungsansammlung auf den Kraft aufnehmenden Flächen (5´) des Messelements verursacht, welche mit Elektroden (6) versehen ist. Anwendungen sind Messungen, bei denen Querkräfte Fxy orthogonal zur Kraft Fz auf den Messkörper (2) zu erwarten sind, welche ein Fehlsignal am Messelement (4) erzeugen. Erfindungsgemäss besteht das Messelement aus mindestens zwei, vorzugsweise aus vier oder acht gleichartigen Messelement-Segmenten (7) mit geraden Flanken (8, 8´), wobei die Segmente (7) in der x–y Ebene, durch schmale Spalte (9) an den Flanken (8, 8´) voneinander beabstandet, nahe aneinander angeordnet sind, wobei sie zusammen die Form einer Scheibe oder Lochscheibe (10) bilden, womit die Störsignale durch die Querkräfte Fxy auf das Messelement reduziert werden. Ebenfalls betrifft die Erfindung eine Messanordnung umfassend einen erfindungsgemässen Messkörper sowie eine Verwendung eines erfindungsgemässen Messkörpers in einem Werkzeug, insbesondere in einem Fräs- oder Hobelwerkzeug. |
