发明名称 抵消电迁移的方法
摘要 一种抵消电迁移的方法如下所述,此抵消电迁移的方法适用于一晶片封装体中的焊点结构。首先,提供一晶片封装体,晶片封装体包括一线路板、一晶片以及多个焊点结构。其中晶片配置于线路板上,焊点结构配置于线路板与晶片之间,并电性连接晶片与线路板。然后,于焊点结构的一侧交替施加一第一电流与一第二电流,其中第一电流与第二电流方向相反。
申请公布号 TW200935530 申请公布日期 2009.08.16
申请号 TW097104251 申请日期 2008.02.04
申请人 元智大学 发明人 何政恩;巫维翔
分类号 H01L21/60(2006.01) 主分类号 H01L21/60(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 桃园县中坜市远东路135号