| 发明名称 | 亚波长孔口 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种在检测体积中检测发光团存在的方法，其包括在所述检测体积中提供激发辐射。发光团提供于可由所述激发辐射激发的所述检测体积中。检测该发光辐射以确定所述发光团在所述检测体积中的存在。在本发明的一个方面，所述发光团被选择成发出在所述介质中的波长大于所述最小尺寸两倍的发光辐射；以及，其中所述发光团被选择成可由在所述介质中的波长小于所述最小尺寸两倍的激发辐射来激发。因此，除了存在于孔口界面上的部分之外，发光辐射被阻挡不能进入检测器。 | ||
| 申请公布号 | CN101568811B | 申请公布日期 | 2013.12.25 |
| 申请号 | CN200780047833.1 | 申请日期 | 2007.12.18 |
| 申请人 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 发明人 | M·M·J·W·范赫彭;D·J·W·克伦德 |
| 分类号 | G01J3/44(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01J3/44(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 景军平;刘红 |
| 主权项 | 一种用于在检测体积(101)中检测发光团(5，6)存在的方法，包括：在所述检测体积(101)中提供激发辐射(3)；在所述检测体积(101)中提供位于介质中的发光团(5，6)，所述发光团(5，6)可由所述激发辐射(3)激发来发出发光辐射(4)；以及由检测器(10)来检测穿过所述检测体积(101)的孔口(1)的所述发光辐射(4)的至少一偏振分量，所述孔口(1)具有平面内最小尺寸(102)；其中所述发光团(5，6)被选择成发出在所述介质中的波长大于所述最小尺寸两倍的发光辐射(4)；以及，其中所述发光团(5，6)被选择成可由在所述介质中的波长小于所述最小尺寸两倍的激发辐射(3)来激发。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||