发明名称 一种探针框架及基板测试设备
摘要 本实用新型公开了一种探针框架及基板测试设备,涉及基板测试技术领域。通过在不拆除探针框架的前提下,对发生折断的探针进行更换,从而节约了人力资源,提高了设备运行的稼动率和生产效率。探针框架包括至少一个探针孔,该探针孔内壁设置有固定套筒,该固定套筒的内部设置有探针,该固定套筒的一端还设置有与固定套筒可拆卸连接的连接部。
申请公布号 CN203365490U 申请公布日期 2013.12.25
申请号 CN201320427494.2 申请日期 2013.07.18
申请人 北京京东方光电科技有限公司 发明人 刘冲
分类号 G01R1/067(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I 主分类号 G01R1/067(2006.01)I
代理机构 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人 申健
主权项 一种探针框架,包括至少一个探针孔,所述探针孔内壁设置有固定套筒,所述固定套筒的内部设置有探针,其特征在于,所述固定套筒的一端还设置有与所述固定套筒可拆卸连接的连接部。
地址 100176 北京市大兴区北京市经济技术开发区西环中路8号