发明名称 |
一种探针框架及基板测试设备 |
摘要 |
本实用新型公开了一种探针框架及基板测试设备,涉及基板测试技术领域。通过在不拆除探针框架的前提下,对发生折断的探针进行更换,从而节约了人力资源,提高了设备运行的稼动率和生产效率。探针框架包括至少一个探针孔,该探针孔内壁设置有固定套筒,该固定套筒的内部设置有探针,该固定套筒的一端还设置有与固定套筒可拆卸连接的连接部。 |
申请公布号 |
CN203365490U |
申请公布日期 |
2013.12.25 |
申请号 |
CN201320427494.2 |
申请日期 |
2013.07.18 |
申请人 |
北京京东方光电科技有限公司 |
发明人 |
刘冲 |
分类号 |
G01R1/067(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
代理机构 |
北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 |
代理人 |
申健 |
主权项 |
一种探针框架,包括至少一个探针孔,所述探针孔内壁设置有固定套筒,所述固定套筒的内部设置有探针,其特征在于,所述固定套筒的一端还设置有与所述固定套筒可拆卸连接的连接部。 |
地址 |
100176 北京市大兴区北京市经济技术开发区西环中路8号 |