| 发明名称 | 一种主板高加速寿命测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种主板高加速寿命测试方法，其具体测试过程为：1）首先进行温度应力测试，该温度应力测试包括：低温应力测试和高温应力测试；2）然后进行振动应力测试；3）最后进行联合应力测试，即将步骤1）与步骤2）联合起来同时进行应力测试。该一种主板高加速寿命测试方法和现有技术相比，节省设计成本，在产品研发阶段快速发现设计缺陷；同时可监控制造工艺的瑕疵，在研发阶段提前避免由于制程造成的产品品质问题，实用性强，易于推广。 | ||
| 申请公布号 | CN103471795A | 申请公布日期 | 2013.12.25 |
| 申请号 | CN201310421013.1 | 申请日期 | 2013.09.16 |
| 申请人 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 发明人 | 李健 |
| 分类号 | G01M7/02(2006.01)I;G01M7/08(2006.01)I;G01N25/72(2006.01)I | 主分类号 | G01M7/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 代理人 | ||
| 主权项 | 一种主板高加速寿命测试方法，其特征在于，其具体测试过程为：1）首先进行温度应力测试，该温度应力测试包括：低温应力测试和高温应力测试；2）然后进行振动应力测试；3）最后进行联合应力测试，即将步骤1）与步骤2）联合起来同时进行应力测试。 | ||
| 地址 | 250014 山东省济南市高新区舜雅路1036号 | ||