发明名称 | 一种降低量子效应光电探测阵列暗电流的微光测试系统 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种降低量子效应光电探测阵列暗电流的微光测试系统,包括将量子效应光电探测阵列与读出电路对接,读出电路分别与时序控制电路和数据采集系统连接,其特点是所述量子效应光电探测阵列的输入端接有可变电阻器,可变电阻器为分流和降低量子效应光电探测阵列流向读出电路的暗电流,增大读出电路光信号的读出范围,有效读出量子效应光电探测阵列的微光信号。本实用新型与现有技术相比具有读出电路的电荷存储容量和信噪比高,有效增大了响应率和可测光功率的动态范围,有利于新型光电探测器的广泛应用。 | ||
申请公布号 | CN203364963U | 申请公布日期 | 2013.12.25 |
申请号 | CN201320345695.8 | 申请日期 | 2013.06.17 |
申请人 | 华东师范大学 | 发明人 | 刘晓艳;郭方敏 |
分类号 | G01J1/42(2006.01)I | 主分类号 | G01J1/42(2006.01)I |
代理机构 | 上海蓝迪专利事务所 31215 | 代理人 | 徐筱梅;张翔 |
主权项 | 一种降低量子效应光电探测阵列暗电流的微光测试系统,包括将量子效应光电探测阵列(1)与读出电路(3)对接,读出电路(3)分别与时序控制电路(2)和数据采集系统(4)连接,其特征在于所述量子效应光电探测阵列(1)的输入端接入可变电阻器(5);所述读出电路(3)通过时序控制电路(2)的控制转换,将量子效应光电探测阵列(1)采集的光信号有序读出后输入数据采集系统(4),由数据采集系统(4)对光电器件进行性能的测试分析;所述可变电阻器(5)为分流和降低量子效应光电探测阵列(1)流向读出电路(3)的暗电流,增大读出电路(3)光信号的读出范围和有效读出量子效应光电探测阵列(1)的微光信号。 | ||
地址 | 200241 上海市闵行区东川路500号 |