一种待测电子设备的性能测试系统、方法及装置

摘要

本发明实施例提供一种待测电子设备的性能测试系统、方法及装置，其中系统包括：计算机PC，测试仪器，若干待测电子设备；PC分别通过与各待测电子设备相接的网卡，与各待测电子设备建立通信，确定各待测电子设备的测试先后次序，一个测试次序对应一个待测电子设备；PC通过与所述测试仪器相接的网卡，按照所述测试先后次序，在各个测试次序阶段，控制所述测试仪器锁定与各测试次序对应的待测电子设备，控制所述测试仪器通过与各测试次序对应的待测电子设备相接的测试端口，对所述各测试次序对应的待测电子设备的性能进行测试，从而完成各待测电子设备的性能测试，获取各待测电子设备的测试结果。本发明提高了待测电子设备的性能测试的效率。

主权项

一种待测电子设备的性能测试系统，其特征在于，包括：计算机PC，所述PC设置有多个网卡；测试仪器，所述测试仪器与所述多个网卡中的一个网卡相接，所述测试仪器设置有多个测试端口；若干待测电子设备，各待测电子设备与所述多个网卡中的一个网卡相接，且各待测电子设备与所述多个测试端口中的一个测试端口相接；其中，所述PC分别通过与各待测电子设备相接的网卡，与各待测电子设备建立通信，确定各待测电子设备的测试先后次序，一个测试次序对应一个待测电子设备；所述PC通过与所述测试仪器相接的网卡，按照所述测试先后次序，在各个测试次序阶段，控制所述测试仪器锁定与各测试次序对应的待测电子设备，控制所述测试仪器通过与各测试次序对应的待测电子设备相接的测试端口，对所述各测试次序对应的待测电子设备的性能进行测试，从而完成各待测电子设备的性能测试，获取各待测电子设备的测试结果。