发明名称 |
测试装置 |
摘要 |
一种测试装置,用于测试一焊接到电路板上的MOS管是否存在虚焊和假焊,所述测试装置包括一发光二极管、第一及第二开关、第一及第二电阻及第一至第三接触元件,测试时,所述第一接触元件接触所述MOS管的漏极,所述第二接触元件接触所述MOS管的栅极,所述第三接触元件接触所述MOS管的源极,当所述MOS管为NMOS管时,闭合所述第一开关,当所述MOS管为PMOS管时,闭合所述第二开关,若所述发光二极管不发光,则表明所述MOS管存在虚焊和假焊;若所述发光二极管发光,则表明所述MOS管不存在虚焊和假焊。上述测试装置的测试结果准确且测试成本较低。 |
申请公布号 |
CN103472321A |
申请公布日期 |
2013.12.25 |
申请号 |
CN201210187285.5 |
申请日期 |
2012.06.08 |
申请人 |
鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
发明人 |
周海清 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种测试装置,用于测试一焊接到电路板上的MOS管是否存在虚焊和假焊,所述测试装置包括一发光二极管、第一及第二开关、第一及第二电阻及第一至第三接触元件,所述发光二极管的阳极与一电源相连,所述发光二极管的阴极通过所述第一电阻与所述第一接触元件相连,所述第一开关的一端通过所述第二电阻与所述电源相连,所述第一开关的另一端与所述第二接触元件相连,所述第二开关的一端与所述第一开关的另一端相连,所述第二开关的另一端接地,并与所述第三接触元件相连,测试时,所述第一接触元件接触所述MOS管的漏极与所述电路板上一第一电子元件之间的节点,所述第二接触元件接触所述MOS管的栅极与所述电路板上一第二电子元件之间的节点,所述第三接触元件接触所述MOS管的源极与所述电路板上一第三电子元件之间的节点,当所述MOS管为NMOS管时,闭合所述第一开关,当所述MOS管为PMOS管时,闭合所述第二开关,若所述发光二极管不发光,则表明所述MOS管存在虚焊和假焊;若所述发光二极管发光,则表明所述MOS管不存在虚焊和假焊。 |
地址 |
518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号 |