发明名称 基于动态重构的FPGA配置信息翻转测试平台及测试方法
摘要 本发明公开了一种基于动态重构的FPGA配置信息翻转测试平台及测试方法。其包括上位机控制模块、TCP/IP协议通信模块、配置读写模块、待测模块、数据收集模块及上位机数据分析模块。上位机控制模块产生测试所需参数,并通过TCP/IP协议通信模块传给配置读写模块;配置读写模块通过内部配置访问端口ICAP实现配置信息的读写及实时翻转;待测模块由用户根据需要提供;数据收集模块产生待测模块所需激励信号,并将配置信息翻转后待测模块的输出结果发送至上位机数据分析模块;上位机数据分析模块对测试结果进行统计和分析,判断待测模块功能能否正确实现。本发明具有FPGA资源消耗小、待测系统灵活、接口处理速度快的优点,可用于星载FPGA系统的可靠性测试。
申请公布号 CN103473159A 申请公布日期 2013.12.25
申请号 CN201310478764.7 申请日期 2013.10.13
申请人 西安电子科技大学 发明人 雷杰;李云松;程蕾;郭杰;贾超群;魏雯;李双十
分类号 G06F11/22(2006.01)I;H04L29/06(2006.01)I 主分类号 G06F11/22(2006.01)I
代理机构 陕西电子工业专利中心 61205 代理人 王品华;朱红星
主权项 一种基于动态重构的FPGA配置信息翻转测试平台,包括:上位机控制模块(1),用于产生测试所需的随机向量、随机向量位置及模拟单粒子翻转的次数,输出给配置读写模块;TCP/IP协议通信模块(2),用于完成上位机控制模块与配置读写模块之间的信息传输,以及配置读写模块与上位机数据分析模块之间的信息传输;配置读写模块(3),用于实现FPGA配置信息的读写及实时翻转,即通过访问FPGA内部配置访问端口ICAP,回读出待测模块配置信息,并对该配置信息与随机向量进行运算,再将加入随机向量后的配置信息重新写入待测模块;待测模块(4),用于配置自身的电路信息,将配置信息输出至配置读写模块,或根据配置读写模块传回的加入随机向量后的配置信息,重新配置自身的电路信息,并将新配置后该模块的输出结果送入数据收集模块;数据收集模块(5),用于产生待测模块所需的激励信号,并将待测模块输出的新配置后的结果,输出给上位机数据分析模块(6);上位机数据分析模块(6),用于对从数据收集模块中传入的模块功能结果进行统计和分析。
地址 710071 陕西省西安市太白南路2号