发明名称 Elektronenstrahl-Interferenzvorrichtung und Elektronenstrahl-Interferometrie
摘要 Es besteht eine Grenze hinsichtlich Reichweite und Entfernung, in welcher ein Elektronenstrahl interferieren kann, und die Elektroneninterferenz wird innerhalb einer Reichweite einer Kohärenzlänge umgesetzt. Daher werden Interferenzbilder aufeinanderfolgend für jede Interferenzbereichsbreite von einem Interferenzbild einer Referenzwelle und eines Beobachtungsbereichs neben der Referenzwelle unter Berücksichtigung der Tatsache aufgezeichnet, dass eine Phasenverteilung, die von einer Interferenzmikroskopie regeneriert und beobachtet wird, ein Differenzial zwischen Phasenverteilungen von zwei zur Interferenz verwendeten Wellen und einem Differenzialbild zwischen Phasenverteilungen eines vorgegebenen Beobachtungsbereichs ist, und eine vorgegebene Referenzwelle wird erhalten, indem integrierende Phasenverteilungen erhalten werden, die durch individuelles Regenerieren der Interferenzbilder erhalten werden. Diese Arbeit ermöglicht einen breiten Interferenzbildumfang, der mehr als eine Kohärenzlänge ist, durch Anordnen von Phasenverteilungsbildern, die in den jeweiligen Phasenverteilungen in einer vorgegebenen Reihenfolge durchgeführt und erhalten werden.
申请公布号 DE112012000116(T5) 申请公布日期 2013.12.24
申请号 DE20121100116T 申请日期 2012.02.03
申请人 HITACHI, LTD. 发明人 HARADA, KEN;KASAI, HIROTO
分类号 H01J37/28;G01B15/04;G01N23/00;H01J37/09;H01J37/295 主分类号 H01J37/28
代理机构 代理人
主权项
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