发明名称 Verfahren zum Herstellen eines Bauelements mit einer elektrischen Durchkontaktierung
摘要 Es wird ein Verfahren zum Herstellen eines Bauteils (300) mit einer elektrischen Durchkontaktierung (110) beschrieben, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst: – Bereitstellen eines Halbleitersubstrats (100) mit einer Vorderseite (101) und einer der Vorderseite (101) gegenüberliegenden Rückseite (102), – Erzeugen eines einen Kontaktbereich (103) ringförmig umschließenden Isolationsgrabens (121) auf der Vorderseite (101) des Halbleitersubstrats (101), – Einbringen eines Isolationsmaterials (122) in den Isolationsgraben (121), – Erzeugen eines Kontaktlochs (111) auf der Vorderseite (101) des Halbleitersubstrats (100) durch Abtragen des im Kontaktbereich (103) vom Isolationsgraben (121) umschlossenen Halbleitermaterials (104), und – Abscheiden eines metallischen Materials (114) in dem Kontaktloch (111).
申请公布号 DE102012210472(A1) 申请公布日期 2013.12.24
申请号 DE201210210472 申请日期 2012.06.21
申请人 ROBERT BOSCH GMBH 发明人 REINMUTH, JOCHEN;FREY, JENS;BERGMANN, YVONNE
分类号 H01L21/60;B81B7/02;B81C1/00;H01L21/50;H01L23/485 主分类号 H01L21/60
代理机构 代理人
主权项
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