发明名称 为待测试之电子装置提供电源之治具
摘要 本发明涉及一种治具,用于为待测试之电子装置提供电源,该治具包括一基座、一装设于基座上之抵持结构及一调整结构,该抵持结构上装有一连接器,该调整结构上设有一连接板,该连接板上设有一为被测试电子装置提供电能之电池模块,该调整结构用以调整该电池模块相对于抵持结构之位置,从而使被测电子装置固定于电池模块上时可与抵持结构上之连接器电连接。该治具设有调整结构及抵持结构,提高了其通用性,降低了测试成本,缩短了测试周期。
申请公布号 TWI420118 申请公布日期 2013.12.21
申请号 TW098116257 申请日期 2009.05.15
申请人 富士康(香港)有限公司 香港 发明人 李嘉恩
分类号 G01R31/02;H05K13/00 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人 虞彪 台北市中山区长安东路1段21号3楼
主权项
地址 香港