半导体晶片测试插座

摘要

在此揭露一种半导体晶片测试插座，本发明的插座具有底盖、传导薄片、多个柱塞和外罩。底盖具有耦合开孔，传导薄片装设于耦合开孔中并具有传导部件和绝缘部件，柱塞置于传导薄片的传导部件上，外罩具有接纳空间，在接纳空间内插入传导薄片和底盖。外罩具有上方外罩本体和下方外罩本体，上方外罩本体于相关柱塞的位置具有插入孔，自上方外罩本体周围整体地延伸的下方外罩本体使得下方外罩本体和上方外罩本体间隔，下方外罩本体围绕底盖，定位工具形成于下方外罩本体中。