下行控制信息盲检测方法及装置

摘要

本发明公开了一种下行控制信息盲检测方法及装置。其中，该方法包括：从长期演进（LTE）系统的物理层（PHY）获取物理下行控制信道（PDCCH）占用的资源组位置信息；从LTE系统的媒体接入控制（MAC）层获取多个需要进行盲检测的用户设备（UE）的MAC层信息，根据MAC层信息获取多个UE的下行控制信息（DCI）检测区域的分组信息；根据PDCCH占用的资源组位置信息和DCI检测区域的分组信息进行DCI盲检测。通过本发明，可以达到大量减少盲检测次数、运算时间，大幅提高运算效率、检测效率的效果。

主权项

一种下行控制信息盲检测方法，其特征在于，包括：从长期演进LTE系统的物理层PHY获取物理下行控制信道PDCCH占用的资源组位置信息；从所述LTE系统的媒体接入控制MAC层获取多个需要进行盲检测的用户设备UE的MAC层信息，根据所述MAC层信息获取所述多个UE的下行控制信息DCI检测区域的分组信息；根据所述PDCCH占用的资源组位置信息和所述DCI检测区域的分组信息进行DCI盲检测。