发明名称 基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置及方法
摘要 本发明公开了一种基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置及方法。本装置包括激光器、偏振片、物镜、针孔、透镜、分光棱镜、反射式液晶空间光调制器、反射镜、两个傅里叶透镜、CCD相机和计算机。两个傅里叶透镜结合构成4F系统,并使空间光调制器的像素与CCD相机的像素一一对应。本发明除了能够测试空间光调制器的相位调制性能外,主要是能够测量空间光调制器的像素间相互串扰,对加载相位型给定的相位分布后SLM像素的实际相位调制量进行测量,分析实际调制量与理论值之间的偏差,并研究相应的矫正方法,以使SLM各像素实际调制量与理论值相符,从而改善全息光电再现像的质量。
申请公布号 CN103454073A 申请公布日期 2013.12.18
申请号 CN201310397304.1 申请日期 2013.09.04
申请人 上海大学 发明人 郑华东;曾震湘;于瀛洁;卢小仟
分类号 G01M11/02(2006.01)I 主分类号 G01M11/02(2006.01)I
代理机构 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人 陆聪明
主权项 一种基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置,包括激光器(1)、偏振片(2)、物镜(3)、针孔(4)、透镜(5)、分光棱镜(6)、反射式液晶空间光调制器(7)、反射镜(8)、第一傅里叶透镜(9)、第二傅里叶透镜(10)、CCD相机(11)和计算机(12),其特征在于,所述激光器(1)固定在平台上;偏振片(2)置于激光器(1)之后,物镜(3)置于偏振片(2)之后;起滤波作用的针孔(4)置于物镜(3)焦点位置处,并同时处于透镜(5)的焦点位置;激光束通过透镜(5)后得到平行光束;反射式液晶空间光调制器(7)置于第一傅里叶透镜(9)的前焦面,分光棱镜(6)置于反射式液晶空间光调制器(7)和第一傅里叶透镜(9)之间,反射镜(8)置于分光棱镜(6)之后;第一傅里叶透镜(9)的后焦点与第二傅里叶透镜(10)的前焦点重合;CCD相机(11)置于第二傅里叶透镜(10)的后焦面;计算机(12)通过数据线分别与反射式液晶空间光调制器(7)、CCD相机(11)连接。
地址 200444 上海市宝山区上大路99号