发明名称 |
半导体装置的制造方法 |
摘要 |
本发明的目的在于提供一种从衬底剥离通过较低温度(低于500℃)的工艺而制造的元件来制造具有柔性的半导体装置的方法。使用现有的大型玻璃衬底的制造设备,在玻璃衬底上形成钼膜,在其上形成氧化钼膜,在氧化钼膜上层叠非金属无机膜及有机化合物膜,并且在有机化合物膜上形成通过较低温度(低于500℃)的工艺而制造的元件,然后将其元件从玻璃衬底剥离。 |
申请公布号 |
CN103456686A |
申请公布日期 |
2013.12.18 |
申请号 |
CN201310052224.2 |
申请日期 |
2008.02.02 |
申请人 |
株式会社半导体能源研究所 |
发明人 |
神保安弘;伊佐敏行;本田达也 |
分类号 |
H01L21/77(2006.01)I;H01L27/12(2006.01)I;H01L29/786(2006.01)I;H01L27/32(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/77(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
屠长存 |
主权项 |
一种半导体装置的制造方法,包括如下步骤: 在衬底上形成钼膜; 在所述钼膜上形成氧化钼膜; 在所述氧化钼膜上形成非金属无机膜; 在所述非金属无机膜上形成所述半导体装置的支撑构件; 在所述支撑构件上形成第一电极; 在所述第一电极上形成发光层; 在所述发光层上形成第二电极; 在所述第二电极上贴合挠性衬底;以及 从所述衬底剥离包括所述非金属无机膜、所述支撑构件、所述第一电极、所述发光层、所述第二电极和所述挠性衬底的叠层体。 |
地址 |
日本神奈川 |