一种阻值为10MΩ-100MΩ的绝缘电阻的测试装置

摘要

本实用新型公开了一种阻值为10MΩ-100MΩ的绝缘电阻的测试装置，第一运算放大器的反相输入端通过标准电阻连接基准电压，第一运算放大器的正相输入端通过第五电阻接地；第一运算放大器的输出端通过第三电阻连接至第二运算放大器的反相输入端；第二运算放大器的正相输入端通过第六电阻接地，第一电阻连接在第一运算放大器的输出端与反相输入端之间；第四电阻连接在第二运算放大器的输出端与反相输入端之间；第二电阻连接在第二运算放大器的反相输入端与基准电压之间。本实用新型将待测电阻并联接入标准电阻的两端，通过测量第二运算放大器的输出电压得到待测电阻的阻值，测试精度可达到0.1％。

主权项

一种阻值为10MΩ‑100MΩ的绝缘电阻的测试装置，其特征在于，包括标准电阻，第一运算放大器、第二运算放大器，第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻和第六电阻；所述第一运算放大器的反相输入端通过所述标准电阻连接至基准电压，所述第一运算放大器的正相输入端通过所述第五电阻接地；所述第一运算放大器的输出端通过第三电阻连接至所述第二运算放大器的反相输入端；所述第二运算放大器的正相输入端通过所述第六电阻接地，所述第二运算放大器的输出端用于连接AD芯片；所述第一电阻连接在所述第一运算放大器的输出端与反相输入端之间；所述第四电阻连接在所述第二运算放大器的输出端与反相输入端之间；所述第二电阻连接在所述第二运算放大器的反相输入端与所述基准电压之间。