发明名称 安装结构体及其制造方法
摘要 在由焊料将半导体元件接合并安装于第1安装基板、并将该第1安装基板安装于第2基板上的结构中,若使用熔点较低的焊料来将第1安装基板与第2基板进行接合,则连接强度变低。提供一种安装结构体,利用具有217℃以上熔点的第1焊料(1)将半导体元件(4)与第1安装基板(5)进行接合,并将该第1安装基板(5)安装于第2基板(8)上,包括:多个接合部(6),该接合部(6)将第1安装基板与第2基板进行接合;以及强化构件(7),该强化构件(7)形成于各接合部的各个周围。接合部结构为包含具有比第1焊料(1)要低的熔点的第2焊料,且形成于相邻的各个接合部处的强化构件之间存在空间(16)。
申请公布号 CN103460815A 申请公布日期 2013.12.18
申请号 CN201280015787.8 申请日期 2012.04.02
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 山口敦史;吉田久彦;岸新;大桥直伦
分类号 H05K1/14(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H05K3/34(2006.01)I;H05K3/36(2006.01)I 主分类号 H05K1/14(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人 俞丹
主权项 一种安装结构体,利用具有217℃以上熔点的第1焊料将半导体元件与第1安装基板进行接合,且该第1安装基板安装于第2基板上,其特征在于,包括:多个接合部,该接合部将所述第1安装基板与所述第2基板进行接合;以及强化构件,该强化构件形成于各个所述接合部的周围,所述接合部包含具有比所述第1焊料要低的熔点的第2焊料,形成于相邻的各个所述接合部处的所述强化构件之间存在空间。
地址 日本大阪府