最小输出压降的二分步扫描测试方法

摘要

本发明公开了最小输出压降的二分步扫描测试方法，其技术方案包括：步骤一，以第一步长在半导体产品参数范围内进行初步扫描，寻找状态触发点的输出电压A；其中，所述状态触发点的输出电压A为半导体产品实际输出电压的98％；步骤二，将半导体产品参数范围锁定在以Ａ±（N*第一步长）的小区间内；其中，N为测试安全系数；步骤三，以第二步长在所述步骤二中锁定的小区间内，依次开始扫描，获得所需的半导体产品的最小输出压降，完成扫描。与现有技术的直线扫描相比，半导体产品的最小输出压降Vdrop项的测试时间由直线扫描的60mS缩短至8mS，由于减少了测试时间的花费，使得测试产出得到提升，同时还显著降低了产品测试环节的成本。

主权项

最小输出压降的二分步扫描测试方法，所述最小输出压降为产品输出电压为产品实际输出电压的98%时，输入电压Ｖin与输出电压Vout的压差，其特征在于，包括有以下步骤：步骤一，以第一步长在半导体产品参数范围内进行初步扫描，寻找状态触发点的输出电压A；其中，所述状态触发点的输出电压A为半导体产品实际输出电压的98％； 步骤二，将半导体产品参数范围锁定在以Ａ±N*第一步长的小区间内；其中，N为测试安全系数； 步骤三，以第二步长在所述步骤二中锁定的小区间内，依次开始扫描，获得所需的半导体产品的最小输出压降，完成扫描。