用于测量机器元件的形状、位置和规格特征的设备和方法

摘要

本发明涉及一种用于测量机器元件的形状、位置和规格特征的设备和方法。本发明的任务，即，找到一种用于测量可旋转的机器元件的形状特征、位置特征和规格特征的可能性，其允许有微小的结构花费且能够以高精密度来测量能轴向触摸的还具有被遮盖区域的表面，根据本发明来解决。根据本发明，除了具有照明模块(31)和拍摄机器元件(5)的阴影图像的照相机模块(33)的光学测量单元(3)外，在轴向上存在有具有触知测量触头(42)的机械测量单元(4)，用于测量机器元件(5)，该机械测量单元固定在光学测量单元(3)上并且具有枢转装置(41)，其用于与机器元件(5)的旋转轴线(6)正交地内转触知测量触头(42)。

主权项

一种用于测量能旋转的机器元件的形状特征、位置特征和规格特征的设备，其包含 ‑机械稳定的机架，所述机架具有沿着所述机架布置的线性引导装置和与此平行布置的线性引导系统， ‑工件保持装置(2)，用于所述机器元件(5)绕着所述机器元件(5)的旋转轴线(6)的能转动的容纳，其中，所述工件保持装置(2)具有至少一个容纳在所述线性引导装置中的夹紧机构，绕所述夹紧机构，所述机器元件(5)能绕着所述旋转轴线(6)转动， ‑具有照明模块(31)和照相机模块(33)的光学测量单元(3)，所述光学测量单元(3)能运动地布置在线性引导系统(12)上并且利用所述光学测量单元(3)，能从能转动地布置在照明模块(31)与对置的照相机模块(33)之间的机器元件(5)拍摄所述机器元件(5)的二维阴影图像， 其特征在于， ‑所述光学测量单元(3)具有额外的机械测量单元(4)，所述机械测量单元带有用于在轴向方向上测量所述机器元件(5)的触知测量触头(42)，其中， ‑所述机械测量单元(4)固定在所述光学测量单元(3)上并且具有用于使所述触知测量触头(42)在相对于所述机器元件(5)的旋转轴线(6)的正交平面中内转的枢转装置(41)。