发明名称 |
基于调制掺杂的GaN肖特基二极管 |
摘要 |
本实用新型公开了一种基于调制掺杂的GaN肖特基二极管,属于半导体器件领域。本实用新型包括用于支撑整个GaN肖特基二极管的半绝缘的衬底层、在衬底层上生长的高掺杂的N+型GaN层,以及在N+型GaN层上采用调制掺杂生长的N-型GaN层;N-型GaN层的掺杂浓度从N+型GaN层的界面处开始非均匀分布;在N+型GaN层上生长欧姆接触电极;在N-型GaN层上生长有肖特基接触电极。本实用新型利用调制掺杂方式在N+型GaN层上生长N-型GaN层,提高了GaN材料的迁移率,改善了材料中电子浓度分布,减小了二极管的肖特基结电容,提高了其工作频率,进而提高了毫米波和太赫兹范围内倍频电路的工作频率和输出功率;通过控制调制掺杂可以有效控制肖特基二极管的变容比,提高器件的Q值。 |
申请公布号 |
CN203351610U |
申请公布日期 |
2013.12.18 |
申请号 |
CN201320462832.6 |
申请日期 |
2013.07.31 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第十三研究所 |
发明人 |
梁士雄;冯志红;房玉龙;邢东;王俊龙;张立森;杨大宝 |
分类号 |
H01L29/872(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L29/45(2006.01)I;H01L29/47(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/872(2006.01)I |
代理机构 |
石家庄国为知识产权事务所 13120 |
代理人 |
陆林生 |
主权项 |
一种基于调制掺杂的GaN肖特基二极管,其特征在于包括用于支撑整个GaN肖特基二极管的半绝缘的衬底层(101)、在所述衬底层(101)上生长的高掺杂的N+型GaN层(102),以及在所述N+型GaN层(102)上采用调制掺杂生长的N‑型GaN层(103),N‑型GaN层(103)的掺杂浓度从N+型GaN层(102)的界面处开始为非均匀分布;在所述的N+型GaN层(102)上生长欧姆接触电极(104);在所述的N‑型GaN层(103)上生长有肖特基接触电极(105)。 |
地址 |
050051 河北省石家庄市合作路113号 |