发明名称 |
板料刻痕特征无损高精密测量装置 |
摘要 |
本发明涉及一种板料刻痕特征无损高精密测量装置,包括:支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架,第一传感器通过二维滑台连接至支架侧面框架上;导轨与支架的底面框架连接,单向滑台通过滑块和锁扣与导轨连接,转台组件与单向滑台连接;第二传感器通过托架与支架连接,且设置在单向滑台下方。本发明具有结构简单、操作方便、提高膜片生产率、降低膜片生产成本的优点。 |
申请公布号 |
CN103453838A |
申请公布日期 |
2013.12.18 |
申请号 |
CN201210183606.4 |
申请日期 |
2012.06.05 |
申请人 |
上海航天设备制造总厂 |
发明人 |
陈长江;杨国舜;郭立杰;尤登飞;陆彬;陈军 |
分类号 |
G01B11/06(2006.01)I;G01B11/24(2006.01)I;G01B11/22(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/06(2006.01)I |
代理机构 |
上海汉声知识产权代理有限公司 31236 |
代理人 |
郭国中 |
主权项 |
一种板料刻痕特征无损高精密测量装置,其特征在于,包括:支架、二维滑台、第一传感器、转台组件、单向滑台、滑块、导轨、第二感器、锁扣和托架,所述第一传感器通过所述二维滑台连接至所述支架侧面框架上;所述导轨与所述支架的底面框架连接,所述单向滑台通过所述滑块和锁扣与所述导轨连接,所述转台组件与所述单向滑台连接;所述第二传感器通过所述托架与所述支架连接,且设置在所述单向滑台下方。 |
地址 |
200245 上海市闵行区华宁路100号 |