发明名称 数字电路逻辑芯片测试仪
摘要 本实用新型涉及一种数字电路逻辑芯片测试仪,包括单片机、为单片机提供时钟信号的时钟电路、用于单片机复位的复位电路、LCD汉字液晶显示器、将LCD汉字液晶显示器与单片机进行连接的接口电路、键盘、将键盘与单片机进行连接的键盘电路、用于将单片机和PC机进行连接的RS232接口,还包括数字集成芯片插座、用于切换数字集成芯片插座Vcc端的Vcc切换电路。该仪器能够通过单片机对数字集成芯片插座进行控制测试,并对不同的芯片电源管脚进行转换,可以完成对TTL74/54、CMOS4000/4500系列芯片的测试。
申请公布号 CN203350408U 申请公布日期 2013.12.18
申请号 CN201320413878.9 申请日期 2013.07.11
申请人 西安邮电大学 发明人 袁立行;郝云芳;王钰;于斌;郑燕
分类号 G01R31/317(2006.01)I 主分类号 G01R31/317(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 王少文
主权项 一种数字电路逻辑芯片测试仪,包括单片机、为单片机提供时钟信号的时钟电路、用于单片机复位的复位电路、LCD汉字液晶显示器、将LCD汉字液晶显示器与单片机进行连接的接口电路、键盘、将键盘与单片机进行连接的键盘电路、用于将单片机和PC机进行连接的RS232接口,其特征在于:还包括数字集成芯片插座、用于切换数字集成芯片插座Vcc端的Vcc切换电路。
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