发明名称 Verfahren zum Herstellen einer FinFET-Vorrichtung
摘要 Die vorliegende Offenbarung stellt viele verschiedene Ausführungsformen zum Herstellen einer FinFET-Vorrichtung bereit, die eine oder mehrere Verbesserungen gegenüber dem Stand der Technik liefert In einer Ausführungsform weist ein Verfahren zum Herstellen eines FinFET Bereitstellen eines Halbleitersubstrats und einer Vielzahl von Scheingraten und aktiven Graten auf dem Halbleitersubstrat auf. Eine vorbestimmte Gruppe von Scheingraten wird entfernt.
申请公布号 DE102012110995(A1) 申请公布日期 2013.12.12
申请号 DE201210110995 申请日期 2012.11.15
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 TING, KUO-CHIANG;YIN, JOANNA CHAW YANE;WU, CHI-HSI;CHEN, KUANG-HSIN
分类号 H01L21/8234 主分类号 H01L21/8234
代理机构 代理人
主权项
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