发明名称 定义光阻图案倒线规则之模型,及用以改善光阻图案倒线之光罩布局、半导体基板及方法
摘要 本发明提供一种定义光阻图案倒线规则之模型。光阻图案定义为非倒线,若d≧5a且c≧1.5b;或5a>d≧3a且c≧1.2b。其中,b为光罩布局第一线型图案之宽度,c为该光罩布局第二线型图案之宽度,且a及d为该第二线型图案与该等第一线型图案间之距离。本发明亦提供于光学近接修正中,用以改善光阻图案倒线之一光罩布局、一半导体基板及一方法。
申请公布号 TWI418928 申请公布日期 2013.12.11
申请号 TW100116425 申请日期 2011.05.11
申请人 南亚科技股份有限公司 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 发明人 傅国贵;陈逸男;刘献文
分类号 G03F1/36 主分类号 G03F1/36
代理机构 代理人 冯博生 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号