发明名称 |
定义光阻图案倒线规则之模型,及用以改善光阻图案倒线之光罩布局、半导体基板及方法 |
摘要 |
本发明提供一种定义光阻图案倒线规则之模型。光阻图案定义为非倒线,若d≧5a且c≧1.5b;或5a>d≧3a且c≧1.2b。其中,b为光罩布局第一线型图案之宽度,c为该光罩布局第二线型图案之宽度,且a及d为该第二线型图案与该等第一线型图案间之距离。本发明亦提供于光学近接修正中,用以改善光阻图案倒线之一光罩布局、一半导体基板及一方法。 |
申请公布号 |
TWI418928 |
申请公布日期 |
2013.12.11 |
申请号 |
TW100116425 |
申请日期 |
2011.05.11 |
申请人 |
南亚科技股份有限公司 桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |
发明人 |
傅国贵;陈逸男;刘献文 |
分类号 |
G03F1/36 |
主分类号 |
G03F1/36 |
代理机构 |
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代理人 |
冯博生 台北市松山区敦化北路201号7楼 |
主权项 |
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地址 |
桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号 |