发明名称 半导体元件的测试装置以及测试方法
摘要 同步图案生成部12生成用于维持内置于DUT的时脉再生部54与外部的连接所需的同步图案SYNC_PAT。闸信号生成部16生成在应将向量图案VECT_PAT供给至DUT的期间被确证的闸信号FGATE。图案选择部18在第1模式下,在闸信号FGATE被确证的期间输出向量图案VECT_PAT,在该闸信号FGATE被否定的期间将输出位准予以固定。在第2模式下,图案选择部18在闸信号FGATE被确证的期间输出向量图案VECT_PAT,在该闸信号FGATE被否定的期间输出同步图案SYNC_PAT。
申请公布号 TWI418825 申请公布日期 2013.12.11
申请号 TW100123640 申请日期 2011.07.05
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 津藤胜
分类号 G01R31/3183;G01R31/319 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本