发明名称 具导光量测功能之霍尔效应量测装置
摘要 一种具导光量测功能之霍尔效应量测装置,其包括有一测试槽、一组磁铁单元、一通道及一样品单元。测试槽具有一槽孔,该组磁铁单元系互相平行设置于测试槽两外侧以提供一均匀化磁场,而通道由霍尔效应量测装置周缘适处穿透磁铁单元其中之一并连通至槽孔,藉以提供一光源由外部照射至槽孔内,而样品单元具有复数个电极及一样品座,其垂直放置于测试槽之槽孔内,其中样品座供承放待测物以接收光源照射,并藉由电性连接至该些电极之量测工具等以量测各项电性的变化,以利研究者了解待测物对特定光源的电学反应。
申请公布号 TWI418817 申请公布日期 2013.12.11
申请号 TW100113357 申请日期 2011.04.18
申请人 树德科技大学 高雄市燕巢区横山路59号 发明人 程达隆;高国陞
分类号 G01R31/26;G01R27/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人 陈瑞田 高雄市凤山区建国路3段256之1号;康清敬 台北市大安区敦化南路2段77号19楼
主权项
地址 高雄市燕巢区横山路59号