发明名称 用于磁感应阻抗测量装置的平面线圈布置
摘要 一种用于磁感应阻抗测量装置的平面线圈布置(400),包括激励线圈(102)和探测线圈(404),所述激励线圈(102)被配置为在对象中生成磁激励场,所述探测线圈(404)被配置为探测磁响应场,所述磁响应场响应于所述磁激励场在所述对象中感生电流而生成。为了最小化所述磁激励场在所述探测线圈(404)中的影响,所述探测线圈(404)的形状关于所述激励线圈(102)径向对称,并且相对于所述激励线圈(102)被布置为使得所述磁激励场在所述探测线圈(404)中最小化。
申请公布号 CN103442634A 申请公布日期 2013.12.11
申请号 CN201280007510.0 申请日期 2012.02.01
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 F·J·罗塞利费雷尔;C·H·伊格尼;M·哈姆施
分类号 A61B5/05(2006.01)I;G01N27/02(2006.01)I 主分类号 A61B5/05(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人 王英;刘炳胜
主权项 一种用于磁感应阻抗测量装置(504)的平面线圈布置(100、200、300、400、500),所述平面线圈布置(100、200、300、400、500)包括:‑激励线圈(102),其被配置为在对象中生成磁激励场,以及‑探测线圈(104、204、304、404、504a‑c),其被配置为探测磁响应场,所述磁响应场响应于所述磁激励场在所述对象中感生电流而生成,其中,所述探测线圈(104、204、304、404)的形状关于所述激励线圈(102)径向对称,并且相对于所述激励线圈(104)被布置为使得所述磁激励场在所述探测线圈(104、204、304、404、504a‑c)中最小化。
地址 荷兰艾恩德霍芬