发明名称 |
一种超高压光电导开关测试装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种超高压光电导开关测试装置,属于半导体器件测试技术领域。其包括测试平台和测试电路,所述的测试平台包括万向轮、箱体工作台和夹紧机构;所述的万向轮安装于箱体工作台的底部,所述的夹紧机构设置于箱体工作台的顶部;所述的测试电路安置于箱体工作台的内部。针对现有技术结构复杂、无法简便的更换待测光电导开关且不能适用于多种测试环境的问题,本实用新型设计有专门的待测光电导开关夹紧机构,可以方便对待测光电导开关进行更换,并且底部装有万向轮,使得本实用新型可以适用于多种测试环境。 |
申请公布号 |
CN203337790U |
申请公布日期 |
2013.12.11 |
申请号 |
CN201320419289.1 |
申请日期 |
2013.07.15 |
申请人 |
安徽工业大学 |
发明人 |
周郁明;姜浩楠 |
分类号 |
G01R31/327(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/327(2006.01)I |
代理机构 |
南京知识律师事务所 32207 |
代理人 |
蒋海军 |
主权项 |
一种超高压光电导开关测试装置,其特征在于,包括测试平台和测试电路,所述的测试平台包括万向轮(1)、箱体工作台(2)和夹紧机构(3);所述的万向轮(1)安装于箱体工作台(2)的底部,所述的夹紧机构(3)设置于箱体工作台(2)的顶部;所述的测试电路安置于箱体工作台(2)的内部。 |
地址 |
243002 安徽省马鞍山市花山区湖东路59号 |