一种测试存储器访问时延的方法及系统

摘要

本发明公开了一种测试存储器访问时延的方法，包括：设置特征值，并设置记录采样时刻返回值情况的计数器；将采样时刻T和采样时刻T-1微码得到的返回值分别与设置的特征值进行比较，并将比较结果记录在计数器中，根据计数结果确定存储器的访问时延。本发明还同时公开了一种测试存储器访问时延的系统，采用该方法和系统能精确的测定访问时延，从而可以使微码指令用正确的查表返回值控制转发层面数据报文的转发，保证业务功能的正常进行。

主权项

一种测试存储器访问时延的方法，其特征在于，该方法包括： 设置特征值，并设置记录采样时刻返回值情况的计数器； 测试仪发送数据包触发微码执行，将采样时刻T和采样时刻T‑1微码得到的返回值分别与设置的特征值进行比较，并将比较结果记录在计数器中，根据计数结果确定存储器的访问时延； 所述计数器包括：采样时刻T的返回值正确计数器、采样时刻T的返回值错误计数器、采样时刻T‑1的返回值正确计数器和采样时刻T‑1的返回值错误计数器； 所述将比较结果记录在计数器中具体为： 如果采样时刻T或采样时刻T‑1微码得到的返回值与所设置的特征值相等，则采样时刻T的返回值正确计数器或采样时刻T‑1的返回值正确计数器加1；如果采样时刻T或采样时刻T‑1微码得到的返回值与所设置的特征值不相等，则采样时刻T的返回值错误计数器或采样时刻T‑1的返回值错误计数器加1； 该方法进一步包括：每发送一个数据包后比较和记录比较结果一次，发送一个测试周期后停止发送数据；所述根据计数结果确定存储器的访问时延具体为：如果采样时刻T‑1的返回值错误计数器不等于0且采样时刻T的返回值错误计数器等于0，则采样时刻T为存储器的访问时延；否则，采样时刻T不为存储器的访问时延。