发明名称 |
半导体器件以及半导体器件制造方法 |
摘要 |
本发明涉及半导体器件以及半导体器件制造方法。通过以交替方式进行以彼此不同的生长速率生长III族氮化物的第一和第二生长步骤的多个循环,在生长基板上形成具有多个空腔的空腔包含层。随后在空腔包含层上形成半导体外延层,之后将支承基板接合到半导体外延层。将生长基板从空腔包含层分离。 |
申请公布号 |
CN101764185B |
申请公布日期 |
2013.12.11 |
申请号 |
CN200910266316.4 |
申请日期 |
2009.12.24 |
申请人 |
斯坦雷电气株式会社 |
发明人 |
千野根崇子;梁吉镐;柴田康之;东野二郎 |
分类号 |
H01L33/20(2010.01)I;H01L21/205(2006.01)I;H01L21/78(2006.01)I |
主分类号 |
H01L33/20(2010.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
李辉 |
主权项 |
一种半导体晶片,该半导体晶片包括:生长基板;由形成在所述生长基板上的III族氮化物系化合物半导体构成的空腔包含层,所述空腔包含层包括散布在该空腔包含层中的空腔和柱状结构;以及形成在所述空腔包含层上的III族氮化物系化合物半导体外延层,其中,所述空腔包含层包括附着在所述空腔的内壁上的金属Ga。 |
地址 |
日本东京都 |