发明名称 半导体器件以及半导体器件制造方法
摘要 本发明涉及半导体器件以及半导体器件制造方法。通过以交替方式进行以彼此不同的生长速率生长III族氮化物的第一和第二生长步骤的多个循环,在生长基板上形成具有多个空腔的空腔包含层。随后在空腔包含层上形成半导体外延层,之后将支承基板接合到半导体外延层。将生长基板从空腔包含层分离。
申请公布号 CN101764185B 申请公布日期 2013.12.11
申请号 CN200910266316.4 申请日期 2009.12.24
申请人 斯坦雷电气株式会社 发明人 千野根崇子;梁吉镐;柴田康之;东野二郎
分类号 H01L33/20(2010.01)I;H01L21/205(2006.01)I;H01L21/78(2006.01)I 主分类号 H01L33/20(2010.01)I
代理机构 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人 李辉
主权项 一种半导体晶片,该半导体晶片包括:生长基板;由形成在所述生长基板上的III族氮化物系化合物半导体构成的空腔包含层,所述空腔包含层包括散布在该空腔包含层中的空腔和柱状结构;以及形成在所述空腔包含层上的III族氮化物系化合物半导体外延层,其中,所述空腔包含层包括附着在所述空腔的内壁上的金属Ga。
地址 日本东京都