发明名称 |
热敏电阻自动测试电路 |
摘要 |
本实用新型公开了热敏电阻自动测试电路,包括:一单片机,以及一继电器控制板,所述继电器控制板包括排针,继电器和表笔套筒,所述排针通过排线与单片机IO口相连,为继电器控制板提供控制信号,还包括一数字万用表,表笔套筒用于插接数字万用表的一头,通过表笔将数字万用表和继电器控制板连接在一起,所述每个继电器均连接一热敏电阻,继电器用于把数字万用表表笔切到待试的器件管脚上,当单片机IO为高电平时,继电器闭合;当单片机IO口为低电平时,弹开继电器。本实用新型能够根据需要进行精确控制,精度高,结构简单,使用方便。 |
申请公布号 |
CN203337290U |
申请公布日期 |
2013.12.11 |
申请号 |
CN201320453799.0 |
申请日期 |
2013.07.26 |
申请人 |
西安西谷微电子有限责任公司 |
发明人 |
杨宏斌;朱元涛;杨军 |
分类号 |
G01K15/00(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01K15/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
热敏电阻自动测试电路,其特征在于,包括:一单片机,以及一继电器控制板,所述继电器控制板包括排针,继电器和表笔套筒,所述排针通过排线与单片机IO口相连,为继电器控制板提供控制信号,还包括一数字万用表,表笔套筒用于插接数字万用表的一头,通过表笔将数字万用表和继电器控制板连接在一起,所述每个继电器均连接一热敏电阻,继电器用于把数字万用表表笔切到待试的器件管脚上,当单片机IO为高电平时,继电器闭合;当单片机IO口为低电平时,弹开继电器。 |
地址 |
710077 陕西省西安市高新区锦业路69号创业园A区12号现代企业中心东区2-10402 |