发明名称 一种集成三极管阵列电路测试装置
摘要 本发明涉及一种集成三极管阵列电路测试装置,集成三极管阵列电路测试装置包括:一个两层分体式结构的测试盒,下层主要分布单片机、AD转换器、继电器、模拟开关、稳压电源、恒流源、运算放大器和转接口;上层主要分布数码管、开关、选择按键、被测电路夹具、发光二极管、蜂鸣器、通用仪表接口,上下层电路通过转接口连接。测试盒是该装置的核心部分,测试盒下层板主要实现数据采集、数据处理、数据判断、接口功能;测试盒上层板主要实现信号输入输出、判断结果显示、参数测试数据显示、判断步骤显示功能。本发明装置能完成全管子、全参数的单步、自动测试,高温、低温和常温测试。
申请公布号 CN102096036B 申请公布日期 2013.12.11
申请号 CN201010571941.2 申请日期 2010.12.03
申请人 华东光电集成器件研究所 发明人 焦贵忠;田波;方岚;徐春叶
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R31/26(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 代理人 杨晋弘
主权项 一种集成三极管阵列电路测试装置,其特征在于:由操作显示单元、主机单元以及转接口组成,操作显示单元和主机单元通过转接口相连;所述操作显示单元由显示电路、选择按键、被测器件夹具和一组仪表组成;主机单元由单片机、AD 转换器、开关矩阵公共通道、至少一个开关矩阵单元、信号处理电路、稳压电源以及恒流源组成;主机单元中,单片机通过操作显示单元的选择按键给出的选择信号,选择被测三极管、测试方式和测试参数的类型,同时在显示电路显示出来;单片机将得到的选择信号通过单片机内部程序处理后发送指令,控制相应的开关矩阵单元使之接通相应的继电器,同时单片机发送指令输出给稳压电源和恒流源,稳压电源或恒流源输出相应的电压信号或电流信号给开关矩阵公共通道及开关矩阵单元以接通相关的继电器,给选择被测的三极管提供电压信号或电流信号;选择被测的三极管相应的输出信号通过被选通的开关矩阵单元又把信号送到开关矩阵公共通道,开关矩阵公共通道根据被测试信号的强弱、信号类别,将较强的单电平信号直接送至AD 转换器,弱信号和差分信号先送至信号处理模块,进行滤波、放大、电平转换处理后,送至AD 转换器,AD 转换器接收信号处理电路送来的模拟信号并将其转换成数字信号后通过串口通信送给单片机,单片机接收AD 转换器送来的数字信号并经单片机程序处理和数据判断后,将测试结果通过转接口送给操作显示单元和仪表将被测管子的参数和结果显示出来。
地址 233042 安徽省蚌埠市蚌山区财院路10号