发明名称 |
半导体结构及其制造方法 |
摘要 |
本发明关于一种半导体结构及其制造方法。该制造方法包括以下步骤:(a)提供一第一晶圆及一第二晶圆;(b)配置该第一晶圆于该第二晶圆上;(c)移除部分该第一晶圆,以形成一沟槽;(d)形成一穿导孔于该沟槽内;及(e)形成至少一电性连接组件于该第一晶圆上。藉此,只需形成一个穿导孔即可贯穿且电性连接这些晶圆,故可简化工艺且降低成本。 |
申请公布号 |
CN102097336B |
申请公布日期 |
2013.12.11 |
申请号 |
CN200910258551.7 |
申请日期 |
2009.12.10 |
申请人 |
日月光半导体制造股份有限公司 |
发明人 |
王盟仁 |
分类号 |
H01L21/50(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L25/00(2006.01)I;H01L23/482(2006.01)I;H01L23/52(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/50(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
陆勍 |
主权项 |
一种半导体结构的制造方法,包括:(a)提供一第一晶圆及一第二晶圆,该第一晶圆具有一第一主动面及至少一第一电性连接垫,该第一电性连接垫显露于该第一主动面,且具有至少一穿孔,该第二晶圆具有一第二主动面及至少一第二电性连接垫,该第二电性连接垫显露于该第二主动面;(b)配置该第一晶圆于该第二晶圆上,其中该第二晶圆的第二主动面面对该第一晶圆的第一主动面;(c)移除部分该第一晶圆,以形成一沟槽,该沟槽与该第一电性连接垫的穿孔相连通,且显露该第一电性连接垫及该第二电性连接垫,其中该沟槽未延伸至该第二晶圆;(d)形成一穿导孔于该沟槽内,该穿导孔电性连接该第一电性连接垫及该第二电性连接垫,其中该穿导孔未延伸至该第二晶圆;及(e)形成至少一电性连接组件于该第一晶圆上,该电性连接组件电性连接至该穿导孔。 |
地址 |
中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号 |