发明名称 |
一种Ge组分及带宽可调控的SiGe纳米带的制备方法 |
摘要 |
一种Ge组分及带宽可调控的SiGe纳米带的制备方法,涉及一种纳米材料。在SOI衬底上,用分子束外延或化学汽相沉积法生长一层Si/SiGe/Si结构,用全息激光干涉法对得到的样品曝光显影得周期在1μm以下的光栅阵列,利用ICP干法及湿法结合刻蚀图形,刻蚀深度为到达SOI衬底的埋层SiO2层;利用常规电阻式加热氧化炉对样品进行选择性氧化退火得到带宽达200nm以下的Ge组分及带宽可调控的SiGe纳米带。Ge组分及带宽可调控的SiGe纳米带是通过局部选择性氧化的方式将SOI衬底上的外延Si和SiGe进行氧化,从而减小带宽、调控Ge组份制备生成纳米尺度的半导体材料,简易、低成本、与硅传统工艺相兼容。 |
申请公布号 |
CN103441062A |
申请公布日期 |
2013.12.11 |
申请号 |
CN201310405028.9 |
申请日期 |
2013.09.09 |
申请人 |
厦门大学 |
发明人 |
李成;卢卫芳;黄诗浩;林光杨;陈松岩 |
分类号 |
H01L21/02(2006.01)I;H01L21/20(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I |
主分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
代理机构 |
厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 |
代理人 |
马应森 |
主权项 |
一种Ge组分及带宽可调控的SiGe纳米带的制备方法,其特征在于包括以下步骤:1)在SOI衬底上,用分子束外延或化学汽相沉积法生长一层Si/SiGe/Si结构,清洗后得样品;2)用全息激光干涉法对步骤1)得到的样品进行曝光显影,得到周期在1μm以下的光栅阵列,利用ICP干法及湿法结合刻蚀图形,刻蚀深度为到达SOI衬底的埋层SiO2层;3)利用常规电阻式加热氧化炉对样品进行选择性氧化退火得到带宽达200nm以下的Ge组分及带宽可调控的SiGe纳米带。 |
地址 |
361005 福建省厦门市思明南路422号 |