| 发明名称 | 一种提高断续发射DTX检测性能的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种提高断续发射DTX检测性能的方法及装置，其中，该方法计算检测信道上用户设备UE信号的入射角度并记录信号时延信息，与保存的入射角度和信号时延信息进行比对，如果比对结果一致，则检测到发射端；否则，认为发射端不是期望的发射端或者是虚检或未发送。本发明能够提高在复杂环境下，信号检测的准确度，从而提高系统的抗干扰能力。 | ||
| 申请公布号 | CN103428718A | 申请公布日期 | 2013.12.04 |
| 申请号 | CN201210158369.6 | 申请日期 | 2012.05.21 |
| 申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 辛小枫;张孝中 |
| 分类号 | H04W24/00(2009.01)I;H04L1/00(2006.01)I | 主分类号 | H04W24/00(2009.01)I |
| 代理机构 | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人 | 张红玉 |
| 主权项 | 一种提高断续发射DTX检测性能的方法，其特征在于，计算检测信道上用户设备UE信号的入射角度并记录信号时延信息，与保存的入射角度和信号时延信息进行比对，如果比对结果一致，则检测到发射端；否则，认为发射端不是期望的发射端或者是虚检或未发送。 | ||
| 地址 | 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 | ||