一种高精度AD采样回路

摘要

本实用新型公开了一种高精度AD采样回路，它包括与模拟输入信号相连的一号电阻，一号电阻的另一端分别连接电容和采样芯片的V1脚，采样芯片的V1GND脚分别连接电容的另一端和二号电阻，二号电阻的另一端接地；采样芯片与主控制芯片通过GPIO接口相连。应用实用新型可以大大提高A/D采样数据读取的可靠性，并解决不支持外部数据总线的微处理器与具有并行接口的A/D芯片的接口，扩展的A/D芯片的应用场合。

主权项

一种高精度AD采样回路，其特征在于：它包括与模拟输入信号相连的一号电阻（R1），一号电阻（R1）的另一端分别连接电容（C1）和采样芯片（U2）的V1脚，采样芯片（U2）的V1GND脚分别连接电容（C1）的另一端和二号电阻（R2），二号电阻（R2）的另一端接地；采样芯片（U2）与主控制芯片（U1）通过GPIO接口相连。