发明名称 一种OLED封装母板老化测试用样条
摘要 本实用新型公开了一种OLED封装母板老化测试用样条,包括一组有机发光二极管、一组连接有机发光二极管阳极和阴极的共通电极、基板和盖板,有机发光二极管、共通电极、基板及盖板处于封装状态,其中,样条上位于共通电极上部的盖板被切除,共通电极暴露在外。本实用新型所述OLED封装母板老化测试用样条,通过将待测OLED封装母板沿着有机发光二极管未连接共通电极一侧的边缘切割成若干样条,并切除样条上共通电极上部的盖板以使共通电极暴露出来,便于与老化测试工装的探针接触,避免了制备预开孔的复杂工艺,减低产品加工成本,提高检测效率。
申请公布号 CN203324438U 申请公布日期 2013.12.04
申请号 CN201320284952.1 申请日期 2013.05.22
申请人 四川虹视显示技术有限公司 发明人 张晓茗;王小月;朴章镐;向欣
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人 周永宏
主权项 一种OLED封装母板老化测试用样条,包括一组有机发光二极管、一组连接有机发光二极管阳极和阴极的共通电极、基板和盖板,有机发光二极管和共通电极固定于基板上,所述基板和盖板通过粘结材料粘结形成封装结构,其特征在于:样条上位于共通电极上部的盖板被切除,共通电极暴露在外。
地址 611731 四川省成都市高新区(西区)科新西街168号