发明名称 |
半导体封装 |
摘要 |
本发明公开一种半导体封装。半导体封装包括:电路板,具有相对的第一表面与第二表面;半导体芯片,形成于所述电路板的所述第一表面的部分上,具有第一剖面尺寸;间隔物,形成于所述半导体芯片的部分上,具有小于所述第一剖面尺寸的第二剖面尺寸;包覆层,形成于所述电路板上,覆盖所述半导体芯片且环绕所述间隔物;散热层,形成于所述包覆层与所述间隔物上;以及多个锡球,形成于所述电路板的所述第二表面上。本发明所公开的半导体封装,可避免或至少降低翘曲问题的发生。 |
申请公布号 |
CN103426839A |
申请公布日期 |
2013.12.04 |
申请号 |
CN201310196965.8 |
申请日期 |
2013.05.24 |
申请人 |
联发科技股份有限公司 |
发明人 |
陈泰宇;李钟发;许文松;林世钦 |
分类号 |
H01L23/31(2006.01)I;H01L23/367(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/31(2006.01)I |
代理机构 |
北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 |
代理人 |
白华胜;段晓玲 |
主权项 |
一种半导体封装,其特征在于,包括:电路板,具有相对的第一表面与第二表面;半导体芯片,形成于所述电路板的所述第一表面的中央部分上,具有第一剖面尺寸;间隔物,形成于所述半导体芯片的中央部分上,具有小于所述第一剖面尺寸的第二剖面尺寸;包覆层,形成于所述电路板上,覆盖所述半导体芯片且环绕所述间隔物;散热层,形成于所述包覆层与所述间隔物上;以及多个锡球,形成于所述电路板的所述第二表面上。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区新竹市笃行一路一号 |