发明名称 曝光装置及元件制造方法
摘要 为提供一曝光装置,根据液浸法而能高精度地进行曝光处理及测量处理。曝光装置(EX),系在投影光学系统(PL)的像面侧形成液体(LQ)的液浸区域(AR2),透过投影光学系统(PL)与液浸区域(AR2)的液体(LQ)而使基板(P)曝光者,其具备测量装置(60),用以测量液浸区域(AR2)形成用的液体(LQ)之性质及成分至少一方。
申请公布号 TWI417669 申请公布日期 2013.12.01
申请号 TW094118981 申请日期 2005.06.09
申请人 尼康股份有限公司 日本 发明人 白石健一
分类号 G03F7/20;H01L21/027 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项
地址 日本