摘要 |
一种用以测试信号路径之测试系统包含一测试信号产生器及一信号处理装置。该测试信号产生器包含一调变器及一锁相回路,其中该测试信号产生器之该锁相回路系配置来提供一测试信号且将该测试信号耦接入该待测信号路径。该测试信号产生器之调变器系配置来允许测试信号之相位调变。该信号处理装置系配置来接收与处理该测试信号,其中该待测信号路径系从该测试信号产生器之锁相回路延伸至该信号处理装置。一种用以测试信号路径之方法包含下列步骤:藉一测试信号产生器来产生一测试信号,将该测试信号耦接入该信号路径,藉该信号处理装置来接收该测试信号及评比所接收的测试信号。 |