测试垫结构、晶片封装结构、测试垫结构制作方法以及晶片封装结构制作方法

摘要

本发明提供一种用以测试一晶片之测试垫结构，该测试垫结构包含一金属测试垫以及一第一凹槽，其中，该第一凹槽系设置于该金属测试垫上。该第一凹槽系位于该晶片之一第一讯号线以及一第二讯号线之间，藉以阻隔该第一讯号线以及该第二讯号线，使该第一讯号线以及该第二讯号线不至于短路。