| 发明名称 |
数位调变讯号的测试装置以及数位调变器、数位解调器、使用该些装置的半导体装置 |
| 摘要 |
一种测试装置，具备针对多个通道的每一个通道而设置的数位调变器20。基带讯号生成部26a(26b)利用时序可调节的时序讯号TG1(TG2)来对作为同相(正交)成分的调变讯号所输入的资料D1a(D1b)进行重定时，生成基带讯号BBI(BBQ)。驱动器30a(驱动器30b)生成具有与来自基带讯号生成部26a(26b)的基带讯号BBI(BBQ)的值相对应的位准的多值数位讯号VBBI(VBBQ)。乘法器34a(34b)利用多值数位讯号来对载波讯号进行振幅调变。加法器36对乘法器34a、34b的输出讯号进行加法运算。 |
| 申请公布号 |
TWI417560 |
申请公布日期 |
2013.12.01 |
| 申请号 |
TW098105646 |
申请日期 |
2009.02.23 |
| 申请人 |
爱德万测试股份有限公司 日本 |
发明人 |
渡边大辅;冈安俊幸 |
| 分类号 |
G01R31/28;H04L27/34 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
| 主权项 |
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| 地址 |
日本 |
