发明名称 微电子总成及形成其之方法
摘要 本发明提供一种微电子总成及形成该微电子总成之方法。该方法包括:在一具有对立之第一表面(22)与第二表面(24)之半导体基板(20)中形成第一横向蚀刻停止壁(44)与第二横向蚀刻停止壁(46)。在该半导体基板(20)之该第一表面(22)上形成一电感器(58);以及形成一穿过该基板之该第二表面(24)之孔洞(60),以曝露介于该第一横向蚀刻停止壁(44)与该第二横向蚀刻停止壁之间的该基板(20)。透过该蚀刻孔洞(60)等向性地蚀刻介于该第一横向蚀刻停止壁(44)与该第二横向蚀刻停止壁(46)之间的该基板(20),以在该半导体基板(20)内形成一空穴(66)。在该蚀刻孔洞上形成一密封层(70),以密封该空穴。
申请公布号 TWI417958 申请公布日期 2013.12.01
申请号 TW095134084 申请日期 2006.09.14
申请人 飞思卡尔半导体公司 美国 发明人 毕旭努P 果葛
分类号 H01L21/3065;H01L21/00 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 美国