发明名称 反时限保护方法
摘要 本发明公开了反时限保护方法,包括:微处理器对设定的反时限特性曲线采样n个点,将其转换为由n个加权系数组成的加权系数表,加权系数Cx=设定采样点的故障保护时间tx2/该采样点的故障保护时间tx;微处理器将设定采样点的故障保护时间设为故障保护阈值Smax;检测装置实时检测故障参数Gf,微处理器每隔一单位时间Δt采集检测装置检测到的故障参数Gf,计算故障程度Dx;微处理器计算出单位时间Δt的故障影响因子ΔS,ΔS=Δt*Cx,对该故障影响因子进行累加,判断S是否达到Smax;当S达到Smax时,微处理器控制保护动作执行装置执行保护动作。本发明易于在微处理器上实现,并能灵活地调整故障保护时间。
申请公布号 CN103414150A 申请公布日期 2013.11.27
申请号 CN201310374516.8 申请日期 2013.08.23
申请人 上海新时达电气股份有限公司;上海辛格林纳新时达电机有限公司 发明人 李兴鹤;陶葵;马瑞侠
分类号 H02H3/00(2006.01)I;H02H3/08(2006.01)I;H02H3/20(2006.01)I 主分类号 H02H3/00(2006.01)I
代理机构 上海华祺知识产权代理事务所 31247 代理人 刘卫宇
主权项 一种反时限保护方法,其特征在于,包括:微处理器对设定的反时限特性曲线采样n个点,将该反时限特性曲线转换为由n个加权系数组成的加权系数表,每一加权系数Cx对应一故障程度为Dx的采样点,其中,x=1、2…...n,n为大于等于3的整数,Dx=Gf/Ge,Gf为该采样点的故障参数,Ge为额定值,每一采样点的加权系数Cx=设定采样点的故障保护时间tx2/该采样点的故障保护时间tx,该设定采样点为任意一个采样点;微处理器将该设定采样点的故障保护时间设为故障保护阈值Smax;检测装置实时检测故障参数Gf,微处理器每隔一单位时间Δt采集检测装置检测到的故障参数Gf,并计算出故障程度Dx;微处理器判断计算出的故障程度Dx是否大于1,如果Dx>1则在加权系数表中查询到与Dx相对应的加权系数Cx,计算出该单位时间Δt的故障影响因子ΔS,其中,ΔS=Δt*Cx;同时,微处理器对该故障影响因子进行累加计算,并判断累加值S是否达到故障保护阈值Smax;当累加值S达到故障保护阈值Smax时,微处理器控制保护动作执行装置执行保护动作。
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